数字源表iv扫描miniled电性能

更新时间: 2024-05-02 14:05:45
品牌: 普赛斯仪表
尺寸: 425*255*106mm
测试范围: 0.3mV-300V/100pA-1A
工作环境: 25±10℃
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
所在地: 湖北 武汉市
有效期至: 长期有效
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资料
详细说明

数字源表iv扫描miniled电性能认准普赛斯仪表,普赛斯数字源表国产自主研发,,测试范围更广,输出电压高达300V,USB存储,一键导出报告,符合大环境下国内技术自给的需求,可及时与客户沟通,为客户提供高性价比系统解决方案,及时指导客户编程,加速测试系统开发,详情请联系普赛斯仪表销售专员为您解答一八一四零六六三四七六
LIV
即光电特性,是验证激光二极管、探测器性能的普遍的方法。在晶圆、切割、管芯、封装后老化测试过程中,为降低生产成本同时增加产品吞吐量,快速可靠的LIV测试系统对制造光电器件的工厂是很重要的。

 

根据Laser Diode工作原理,通常技术人员要用到电流源来驱动 LD 工作,产生光的同时用光功率计测量光功率来完成LIV特性测试。在不同的测试阶段例如Chip 测试,技术人员将电流源、电压表、电流表、开关、同步触发单元、光功率计集成起来才能完成测试,同时老化测试前后需要将每个管芯或模块的测试数据进行比对,大大增加了系统的复杂程度,影响了测试精度和数据可靠性。

 

普赛斯仪表开发的LIV测试系统采用国产S型数字源表为核心,结合测试软件以及第三方设备积分球探测器完成LDLIV测试。系统结构简单、精度高、可靠性好、速度快,提高生产效率的同时也增加了测试精度和可靠性,并且降低了测试成本。

 

 

 

需要测试的参数:

驱动电流I,正向压降Vf

光功率Po

阈值电流Ith

拐点Ikink,背光电流Idark

 

需要仪器列表:

S型国产源表

积分球

可变光源

软件

 

高校相关专业

微电子,材料专业


 

有关数字源表iv扫描miniled电性能的更多信息请咨询一八一四零六六三四七六

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